Uma banca de DEFESA de MESTRADO foi cadastrada pelo programa.
DISCENTE: IRAJAN MOREIRA SANTOS
DATA: 27/07/2018
HORA: 15:00
LOCAL: SALA 22 DO DFI
TÍTULO: ESTUDO DAS PROPRIEDADES ESTRUTURAIS, ÓTICAS E ELÉTRICAS DE FILMES FINOS DE ZnO DOPADOS COM Al E Cr.
PALAVRAS-CHAVES: Filmes Finos, ZnO, TCO, difração de raio-X, UV-Vis.
PÁGINAS: 93
GRANDE ÁREA: Ciências Exatas e da Terra
ÁREA: Física
RESUMO:

Estudos baseados em filmes finos têm despertado bastante interesse da comunidade
científica devido ao seu amplo campo de aplicabilidade na indústria. Filmes finos de
Óxido condutor transparente (TCO) é um dos que tem despertado interesse do mercado
tecnológico. O óxido de zinco (ZnO) dopado com alguns metais apresenta os requisitos
necessários para várias aplicações utilizando filmes de TCO. Dependendo do metal
escolhido como dopante, eles apresentam vantagens e desvantagens na sua utilização.
Neste trabalho foram discutidas as propriedades estruturais, óticas e elétricas de filmes
finos de ZnO dopado com alumínio (Al) e cromo (Cr) com concentrações de 3%,
crescidos por magnetron sputtering não reativo, visando a verificação do Cr como
possível substituto para o Al em algumas aplicações. As amostras foram crescidas em
substratos de vidro e sobre camada de Al a temperatura ambiente e também em substratos
com temperaturas entre 100 e 400 °C. Na realização da caracterização foram utilizadas
as técnicas de difração de raios X (DRX), reflectometria de raios X (XRR), espectroscopia
óptica na região do UV-Vis e curvas de corrente por tensão IxV. Os resultados mostraram
que os filmes produzidos apresentaram o pico característicos da fase hexagonal wurtzita
do ZnO com orientação preferencial ao longo do eixo-c, o grau de cristalinidade dos
filmes aumentou com a espessura. Foi observado a partir das medidas de DRX que os
filmes crescidos com ambos os dopantes variando a espessura e temperatura apresentaram
a fase hexagonal wurtzita do ZnO e foi observado ainda um aumento na cristalinidade
dos filmes com espessura, assim como um aumento no tamanho dos cristalitos. A partir
das medidas de XRR foram obtidas as espessuras experimentais assim como a rugosidade
e densidade de massa dos filmes. A partir das medidas de UV-Vis foi observada a alta
transmitância dos filmes, acima de 80% assim como leve redução na mesma com o
aumento da espessura. As medidas de IxV mostraram que os filmes apresentam baixa
resistência, sendo a dos filmes dopados com Cr ligeiramente maiores e foi observado
ainda o comportamento ôhmico dos filmes. Os valores do bandgap para todos os filmes
são próximos de 3,3 eV sem variação significativa com os parâmetros utilizados.

MEMBROS DA BANCA:
Externo ao Programa - 2372402 - JOSÉ DIÔGO DE LISBOA DUTRA
Interno - 1809133 - NILSON DOS SANTOS FERREIRA
Presidente - 1480830 - PETRUCIO BARROZO DA SILVA